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拓扑磁化率与QCD轴子质量:QED与NNLO修正

高能物理 - 唯象学 2025-12-09 v2 高能物理 - 格点

摘要

我们通过纳入手征展开中的O(αem)O(\alpha_{\rm em})与NNLO修正,将QCD拓扑磁化率以及由此而来的QCD轴子质量的精度予以提高,二者分别贡献0.65(21)%与-0.71(29)%。两项修正均比已知的NLO修正小一个数量级,证实了手征展开的极好收敛性及其可靠性。利用最新的轻夸克质量估计,当前不确定性主要由低能常数7\ell_7的不确定性主导。当与来自格点QCD的轻夸克质量比及7\ell_7的可能改进相结合时,我们的计算或能以千分之一精度确定QCD轴子质量。

关键词

引用

@article{arxiv.1812.01008,
  title  = {Topological Susceptibility and QCD Axion Mass: QED and NNLO corrections},
  author = {Marco Gorghetto and Giovanni Villadoro},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1812.01008},
  year   = {2025}
}

备注

19 pages, 1 figure