平坦纳米磁体中的拓扑缺陷：磁静力学极限
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v1
摘要
我们讨论了在薄膜几何结构中软磁纳米颗粒中基本拓扑缺陷。以磁静力学主导的极限下，能量最低的缺陷包括涡旋（旋数n=+1）、交叉结（n=-1）以及边缘缺陷（n=-1/2）。我们推导出域壁可能组成的拓扑约束。该极限下最简单的域壁由两个n=-1/2的边缘缺陷和一个涡旋组成，符合观测和数值模拟的结果。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0508740,
title = {Topological defects in flat nanomagnets: the magnetostatic limit},
author = {G. -W. Chern and H. Youk and O. Tchernyshyov},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0508740},
year = {2007}
}
备注
3 pages, eps figures. Proceedings of MMM 05