在 CLIC 上阈值及阈值以上的顶夸克质量测量
高能物理 - 实验
2013-08-28 v3 高能物理 - 唯象学
摘要
我们提出了一项关于基于 CLIC 技术的直线 e+ e- 对撞机中顶夸克质量测量预期精度的研究。该研究使用了基于 GEANT4 的探测器模拟以及包含真实物理和束流感应本底水平的完整事件重建。我们研究了两种不同的顶夸克质量测量技术：顶夸克衰变产物不变量的直接重建，以及在阈值扫描中将质量与强耦合常数一起测量，两种情况均包含对预期系统不确定性的初步研究。对于直接重建，实验不确定性达到约 100 MeV，目前理论理解在相似水平上尚无法与之匹配。对于阈值扫描，总不确定性达到约 100 MeV，其中包含了定义明确的顶夸克质量方案中的理论不确定性。为了提供两种直线对撞机技术的比较，还研究了 ILC 上阈值扫描的精度。
引用
@article{arxiv.1303.3758,
title = {Top quark mass measurements at and above threshold at CLIC},
author = {Katja Seidel and Frank Simon and Michal Tesar and Stephane Poss},
journal= {arXiv preprint arXiv:1303.3758},
year = {2013}
}
备注
14 pages, 8 figures, published in EPJ C