CLIC 上轻味超夸克的质量与截面测量
高能物理 - 实验
2012-02-17 v1
摘要
我们提出了一项关于在基于 CLIC 技术的 3 TeV e+e- 对撞机上测量 TeV 尺度轻味右超夸克质量及相应产生截面的前景研究。该分析在 CLIC 概念设计报告框架内进行，基于 CLIC_ILD 探测器概念的完整 Geant4 模拟，包括标准模型物理背景和来自双光子过程的机器相关强子背景。事件使用粒子流事件重建进行重建，质量由通过生成器级模拟加弥散以参数化探测器响应构建的模板拟合获得。对于 2/ab 的积分亮度，未分离的第一代和第二代右超夸克获得了 5.9 GeV 的统计精度，对应于 0.52%。对于合并截面，获得了 0.07 fb 的精度，对应于 5%。
引用
@article{arxiv.1202.3446,
title = {Mass and Cross Section Measurement of light-flavored Squarks at CLIC},
author = {Frank Simon and Lars Weuste},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.3446},
year = {2012}
}
备注
To appear in the proceedings of LCWS11, Granada, Spain, September 2011