准粒子干涉中隐藏维度的层析成像映射
材料科学
2021-11-19 v2
摘要
准粒子干涉(QPI)成像已被确立为研究强关联电子材料低能电子结构的方法，具有无与伦比的能量分辨率。然而，作为一种表面敏感技术，QPI的解释仅对各向异性材料效果良好，其中垂直于表面的方向色散可忽略，且准粒子干涉由准二维电子结构主导。在此，我们探索方铅矿的QPI成像，该材料的电子结构不表现出明显各向异性。我们发现准粒子干涉信号由平行于表面的散射矢量主导，但这些矢量源自三维电子结构的随偏压变化的截面。我们发展了QPI信号理论描述的形式体系，并展示这种准粒子层析成像如何用于获取关于能带的3D电子结构和轨道特征的信息。
引用
@article{arxiv.2103.09282,
title = {Tomographic mapping of the hidden dimension in quasi-particle interference},
author = {C. A. Marques and M. S. Bahramy and C. Trainer and I. Marković and M. D. Watson and F. Mazzola and A. Rajan and T. D. Raub and P. D. C. King and P. Wahl},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.09282},
year = {2021}
}
备注
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