用于表征TWIST低能μ子束的时间扩展室系统
仪器与探测器
2008-11-26 v2
摘要
开发了一种低质量时间扩展室（TEC），用于测量用于TWIST实验的TRIUMF低能表面μ子束的位置和角度分布。该实验是对μ子衰变的高精度测量，主要受系统不确定性影响，包括束流的稳定性、可重复性和表征。两个TEC模块测量的分布是TWIST精确模拟的一个基本要素。通过数据和模拟比较提取的不确定性必须已知，以评估TWIST结果的潜在系统不确定性。讨论了TEC系统的设计标准、构造、对准、校准和操作，包括初步束流研究的经验。还简要描述了TEC数据在TWIST模拟中的使用。
引用
@article{arxiv.physics/0604107,
title = {Time expansion chamber system for characterization of TWIST low energy muon beams},
author = {J. Hu and G. Sheffer and Yu. I. Davydov and D. R. Gill and P. Gumplinger and R. S. Henderson and B. Jamieson and C. Lindsay and G. M. Marshall and K. Olchanski and A. Olin and R. Openshaw and V. Selivanov},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0604107},
year = {2008}
}
备注
v. 2, with corrections and revised figures. 23 pages, 16 figures, accepted for publication in Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A