防爆等离子体加速器腐蚀区的时间演化

对防爆等离子体加速器进行光谱研究，以探讨腐蚀区等离子体密度的时间演化。采用半米成像光谱仪配合以10 MHz速率工作的快速相机（工作频率为1 MHz），获取腐蚀区的广义弦积分光谱线。具体获取Hβ线和Hα线的图像，其中Hα线用于确定背景连续辐射。对Abel反演后的Hβ发射线进行Voigt拟合，以确定腐蚀区等离子体在1 μs时间间隔内的数密度径向分布，从而洞察腐蚀模式和爆破模式下腐蚀的形成、增长与衰减。结果表明，防爆模式下的最大密度从约10^20 m^-3（位于腐蚀核心1.4 cm处）增加至约10^23 m^-3（位于腐蚀核心）。相比之下，爆破腐蚀区呈现约10^20 m^-3的较宽且相对均匀的密度区。进一步通过既有文献数据，对防爆腐蚀区及下游等离子体进行能量平衡分析，估算腐蚀核心的温度（因当前测量困难），提示该区域温度可能达到550 eV，暗示分析假设可能存在偏差。