MAST-U偏滤器中来自高分辨率光谱的首次Fulcher带观测

在 MAST-U 偏滤器中，于 Super-X 与拉长的常规偏滤器密度爬升过程中，采用来自中平面高场侧的 $\text{D}_{2}$ 加料，使用了高分辨率 Fulcher 带光谱。在 Super-X 情形（Greenwald 分数从 0.12 到 0.24 的密度爬升）中，上偏滤器显示 $\text{D}_{2}$ 分子的基态转动温度从 detachment 起始时的约 6000 K 增加至深度 detachment 过程中的约 9000 K。这与 Fulcher 发射区的移动相关，而该移动又与电离源相关。转动温度的升高未发生在偏滤器入口附近，那里等离子体仍在电离。下偏滤器与上偏滤器获得了定性一致。在拉长的偏滤器中，detachment 起始前获得了相似的转动温度，尽管在 detachment 期间转动温度的升高因获得的 detachment 深度较浅而不那么明确。上 Fulcher 态（前四个带）的实测振动分布与基态 Boltzmann 分布不符，而是呈现出不同特征，尤其在 $\nu = 2$ 与 $\nu = 3$ 带中布居升高。相对于 $\nu = 0$ 带，$\nu = 2$ 与 $\nu = 3$ 带的布居大致与转动温度成正比。