LEP上的三喷注产生与底夸克质量

我们考虑了从LEP数据提取底夸克质量的可能性。通过将单圈两部分子衰变率与树级三部分子衰变率相加，在 $\alpha_s$ 阶获得了包含 $b$ 夸克的 $Z$ 玻色子遍举衰变率。我们计算了包含 $b$ 夸克的 $Z$ 玻色子衰变为两喷注和三喷注的宽度，并包含了完整的夸克质量效应。特别地，我们给出了对JADE聚类算法稍作修改后的解析结果。我们还研究了相对于胶子喷注与夸克喷注之间夹角的角分布，该分布对夸克质量有很强的依赖性。简要讨论了高阶QCD修正对这些可观测量影响。最后，我们给出了一些流行的喷注聚类算法的数值结果，并表明这些三喷注可观测量确实对 $b$ 夸克质量非常敏感，非常适合在LEP上测定该质量。