利用 LEP 的 DELPHI 探测器研究多喷注拓扑中的 b 夸克质量效应

本文利用 DELPHI 实验在 1994 年和 1995 年于 Z 峰收集的 LEP 数据，研究了重 b 夸克质量对二、三和四喷注率的影响。使用双标记技术和 CAMBRIDGE 喷注聚类算法，测量了 n = 2、3 和 4 喷注事件中的 b 夸克喷注率和轻夸克喷注率（l = uds），以及 b 夸克相对于轻夸克的二喷注和四喷注率之比 $R_n^{bl}$。在强子化阶段之后，将实验结果与理论（矩阵元或 Monte Carlo 事件发生器，如 PYTHIA、HERWIG 和 ARIADNE）进行了比较。利用四喷注可观测量 $R_4^{bl}$，使用有质量的前导阶计算对 b 夸克质量进行了测量，结果为：$m_b(M_Z) = 3.76 \pm 0.32$ (stat) $\pm 0.17$ (syst) $\pm 0.22$ (had) $\pm 0.90$ (theo) GeV/c$^2$。该结果与 $M_Z$ 能标下的先前三喷注测定结果一致，也与利用 QCD 重整化群方程演化至 $M_Z$ 能标的低能质量测量结果一致。