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黑磷烯中厚度与电场依赖的极化率和介电常数

介观与纳米尺度物理 2016-06-08 v3

摘要

基于广泛的第一性原理计算,我们探索了少层黑磷烯的厚度依赖有效介电常数和 slab 极化率。我们发现超薄磷烯中的介电常数依赖于厚度,并且可以通过施加面外电场进一步调控。介电常数随磷烯层数减少而降低,是表面层较低介电率以及增大的表面体积比的直接结果。我们还表明 slab 极化率随层数线性依赖,意味着每个磷原子具有近乎恒定的极化率。我们对厚度和电场依赖的介电性质的计算,将有益于设计和解释栅极磷烯器件中的输运实验,凡静电效应如电容、电荷屏蔽等重要的地方。

关键词

引用

@article{arxiv.1602.09073,
  title  = {Thickness and electric field dependent polarizability and dielectric constant in phosphorene},
  author = {Piyush Kumar and B. S. Bhadoria and Sanjay Kumar and Somnath Bhowmick and Yogesh Singh Chauhan and Amit Agarwal},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1602.09073},
  year   = {2016}
}

备注

8 pages, 6 figures