氮化硅微谐振器中的热折射噪声
光学
2019-07-03 v1 统计力学
摘要
热力学噪声对介质光学谐振器的频率稳定性施加了基本限制。在此，我们表征了基于光子芯片的氮化硅微谐振器中的热折射噪声，并表明热折射噪声是该平台中主导的热噪声源。我们采用平衡零差探测测量了不同直径微谐振器的热折射噪声谱。测量结果与理论模型及有限元方法仿真吻合良好。我们的表征为基于光子芯片的微谐振器中热噪声的标度行为与绝对幅度设定了定量界限。对热折射噪声的深入理解可为未来光子集成器件的设计考量与性能限制提供重要价值。
引用
@article{arxiv.1901.07112,
title = {Thermo-refractive noise in silicon nitride microresonators},
author = {Guanhao Huang and Erwan Lucas and Junqiu Liu and Arslan S. Raja and Grigory Lihachev and Michael L. Gorodetsky and Nils J. Engelsen and Tobias J. Kippenberg},
journal= {arXiv preprint arXiv:1901.07112},
year = {2019}
}