CERN SPS 上 In-In 碰撞中的热双μ子发射

CERN SPS 上的 NA60 实验研究了 158A GeV In-In 碰撞中的低质量双μ子产生。观测到超出中性介子衰变预期产额的显著过剩对，这与$\pi\pi\to\rho\to\mu\mu$的主导贡献一致。本文展示了过剩对的质量与横动量谱的精确结果。与测量到的质量分布相关的时空平均$\rho$谱函数显示出显著的展宽，但质量位移基本为零。从谱中提取的有效斜率参数$T_{eff}$随双μ子质量增加而上升直至$\rho$区域，随后在上方急剧下降。虽然初始上升与强子衰变源径向流的预期一致，但下降表明发射源转变为具有小得多的流，可能具有部分子起源。