关于准直器 Coherence Properties 的理论分析

本工作旨在理论上阐明经过变线栅格（VLS grating）后，X射线束在焦平面上的空间相干性质。假设VLS栅格水平定向，我们关注束在垂直色散方向上的相干性。首先，我们考虑完全具备空间相干性的X射线束照射该栅格。我们表明，焦平面上的空间相干性质取决于入射辐射的带宽。当束在VLS栅格上完全具备空间相干性时，其在栅格焦平面的空间相干性质会发生衰减。我们将其归因于焦平面中空间分量与频率分量之间的耦合。随后，我们检查照射VLS栅格的部分相干X射线束。我们假设该辐射为高斯斯卡尔模型（Gaussian Schell-model）类型，并获得该场在VLS栅格焦平面上空间相干性质的解析表达式。接着，我们考虑由在VLS栅格焦平面安装狭缝所提供的单色仪设置，检查其中的相干度。最后，我们假设栅格的照明为相干的，且带宽为1.7×10^{-4}，评估不同出口狭缝孔径下的相干度。