RTD-THz 振荡器阵列元素频率变动容忍性的理论分析
应用物理
2025-12-05 v1
摘要
阵列配置是增加基于共振隧穿二极管的太赫兹振荡器输出功率的有效方法之一。阵列元素之间的相互锁定结果在共轨单谱振荡和窄化辐射束中表现为致动。然而，元素之间的频率变动会破坏相互锁定。本文推导了任意耦合配置下的元素频率变动容忍性。利用该结果，计算了 1D 和 2D 阵列中频率变动容忍性随元素数目的依赖关系。在 1D 阵列中，频率变动容忍性随元素数目成反比于平方根的倒数减小。在 2D 阵列中，随着列数增加（每列元素数目保持不变），频率变动容忍性随列数增加而增大，但在方形配置处达到最大值，然后随列数继续增大而减小。2D 阵列的元素数目依赖性小于 1D 阵列的元素数目依赖性。
引用
@article{arxiv.2512.04347,
title = {Theoretical analysis of frequency variation tolerance between elements of RTD-THz oscillator arrays for mutual locking},
author = {Masahiro Asada and Safumi Suzuki},
journal= {arXiv preprint arXiv:2512.04347},
year = {2025}
}