蒸气控制器对 CdTe 薄膜物理性质的影响
材料科学
2014-09-22 v1
摘要
本文报道了利用新型蒸气控制系统在真空中制备的 400 nm 纳米晶碲化镉 (CdTe) 薄膜的光学和结构性质。该系统实质上是一个置于镀膜过程中材料蒸气流路径中的旋转圆柱体。圆柱体的上横截面具有一个弧形槽，允许蒸气通过。在不同的蒸气控制条件下制备了三种类型的样品，即：无控制系统（传统方法）、使用旋转圆柱体、以及仅使用作为旋转快门作用的圆柱体上横截面。利用 X 射线衍射 (XRD)、场发射扫描电子显微镜 (FESEM) 和紫外 - 可见 (UV-Vis) 光谱技术对制备的样品进行了研究。结果表明，该技术不仅改善了样品的结构性质，还改变了样品的带隙。
引用
@article{arxiv.1409.5765,
title = {The vapor controller effect on physical properties of CdTe thin films},
author = {M. H. Ehsani and H. Rezagholipour Dizaji and M. H. Mirhaj},
journal= {arXiv preprint arXiv:1409.5765},
year = {2014}
}