麦哲伦云中H II区的光学深度
宇宙学与河外天体物理
2015-06-04 v6
摘要
我们利用电离参数映射作为测量恒星形成H II区光学深度的有力工具。我们使用光致电离代码CLOUDY和新的SURFBRIGHT表面亮度模拟器进行的模拟表明，该技术可以利用空间分辨的发射线数据直接诊断大多数密度受限的光学薄星云。我们将此方法应用于大麦哲伦云和小麦哲伦云，使用了麦哲伦云发射线巡天的数据。我们基于[SII]/[OIII]比值和Hα表面亮度观测到的电离结构所设定的光致电离判据，生成了新的H II区星表。这些星表的光度函数与仅基于Hα巡天的结果基本一致。然后，我们使用电离参数映射将所有星云粗略分类为光学厚和光学薄两类，从而对莱曼连续辐射转移获得了基本的新认识。我们发现，在两个星系中，光学薄天体的频率与Hα光度相关，并且在log L≥37.0以上时，这些天体的数量占主导。光学薄天体的频率在大麦哲伦云和小麦哲伦云中分别为40%和33%。类似地，光学厚区域的频率与H I柱密度相关，光学薄天体在最低的N(HI)处占主导。电离辐射的积分逃逸光度由最大的区域主导，对应于H II区群体的光度加权电离逃逸分数在大麦哲伦云和小麦哲伦云中分别≥0.42和≥0.40。这些值分别对应于4%和11%的全球星系逃逸分数。这足以驱动两个星系中观测到的弥散电离气体的电离率。我们的结果表明，莱曼连续辐射可能存在显著的星系逃逸分数。
引用
@article{arxiv.1202.3334,
title = {The Optical Depth of H II Regions in the Magellanic Clouds},
author = {E. W. Pellegrini and M. S. Oey and P. F. Winkler and S. D. Points and R. C. Smith and A. E. Jaskot and J. Zastrow},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.3334},
year = {2015}
}
备注
31 pages, 24 figures, 6 tables, accepted to ApJ Errors in Tables B1 and B2 object types corrected. Erratum bundled with arxiv submission as "erratum_ms.pdf"