电离参数映射作为HII区光学深度诊断的局限性

我们利用电离参数映射（IPM）来推断M33北半部HII区的光学深度。我们通过窄带图像连续谱减除构建了[OIII]$\lambda 5007$/[OII]$\lambda 3727$和[OIII]$\lambda 5007$/[SII]$\lambda 6724$的比值图，并据此根据HII区的电离结构，按其对电离辐射的光学深度进行分类。该方法在低金属丰度区域（$12 + \log(\rm O/H) \leq 8.4$）效果相对较好，因为那里[OIII]$\lambda\lambda4949,5007$很强。然而，在较高金属丰度下，由于[OIII]$\lambda\lambda4959,5007$发射线对星云温度的强烈依赖性，该方法失效。因此，尽管O$^{++}$可能存在于富金属的HII区中，但这些常用的发射线并不能作为其存在的有用指标，从而也无法指示O的电离态。此外，IPM作为光学深度诊断工具受到空间分辨率的限制。我们还报告了一个高度激发的[OIII]区域，其范围约1 kpc，[OIII]$\lambda5007$光度为$4.9\pm 1.5\times10^{38}$ erg/s，比该星系这部分区域任何潜在源的电离预算高出数倍。最后，这项工作引入了一种基于像素在弥散光通量分布众数周围离散度的窄带图像连续谱减除新方法。除了M33，我们还在Haro~11、ESO 338-IG004和Mrk~71的C III]$\lambda$1909成像上演示了该方法。