TMT 红外成像光谱仪 (IRIS)：反射刻划衍射光栅性能测试与讨论
天体物理仪器与方法
2015-06-22 v1
摘要
我们展示了为红外成像光谱仪 (IRIS) 设计的近红外反射刻划衍射光栅的效率。IRIS 是三十米望远镜 (TMT) 和窄视场红外自适应光学系统 (NFIRAOS) 的首光积分场光谱仪与成像仪。我们介绍了实验装置，并对所选反射衍射光栅的效率进行了分析。这些测量结果被用作与所选候选体相位全息 (VPH) 光栅的对比样本（参见 Chen 等人，本次会议）。我们研究了来自两家不同供应商的为 IRIS 设计的五种刻划光栅的效率。其中三种光栅适用于 1.19-1.37 {\mu}m (J 波段) 的通带，理想光谱分辨率分别为 R=4000 和 R=8000，刻线密度分别为 249 和 516 lines/mm，闪耀角分别为 9.86 度和 20.54 度。另外两种光栅适用于 1.51-1.82 {\mu}m (H 波段) 的通带，理想光谱分辨率为 R=4000，刻线密度为 141 lines/mm，闪耀角为 9.86{\deg}。我们测量了所有光栅在非闪耀角下的效率，以及横磁 (TM) 和横电 (TE) 偏振态之间的效率。H 波段 R=4000 和 J 波段 R=4000 光栅的峰值反射效率分别为 98.90 +/- 3.36% (TM) 和 84.99 +/- 2.74% (TM)。J 波段 R=8000 光栅的峰值反射效率为 78.78 +/- 2.54% (TE)。我们发现这些刻划光栅在 +/-3{\deg} 范围内对入射角没有表现出广泛的依赖性。我们发现制造最好的光栅对入射光束的偏振态表现出依赖性，偏差约为 10-20%，这与理论效率预测一致。
引用
@article{arxiv.1407.2998,
title = {The InfraRed Imaging Spectrograph (IRIS) for TMT: Reflective ruled diffraction grating performance testing and discussion},
author = {Elliot Meyer and Shaojie Chen and Shelley A. Wright and Anna M. Moore and James E. Larkin and Luc Simard and Jerome Maire and Etsuko Mieda and Jacob Gordon},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.2998},
year = {2015}
}
备注
Proceedings of the SPIE, 9147-349