iMet Collection 2019 挑战数据集
计算机视觉与模式识别
2019-06-05 v2
摘要
现有艺术品识别中的计算机视觉技术主要关注实例检索或粗粒度属性分类。在这项工作中,我们提出了一个用于细粒度艺术品属性识别的新数据集。该数据集中的图像来自大都会艺术博物馆经典艺术品的专业摄影,标注由世界级博物馆专家策划并核验。此外,我们还作为 FGVC6 研讨会的一部分提出了 iMet Collection 2019 挑战赛。通过这一竞赛,我们旨在激发细粒度视觉识别研究团体的热情,并推进博物馆藏品数字策展的技术水平。
引用
@article{arxiv.1906.00901,
title = {The iMet Collection 2019 Challenge Dataset},
author = {Chenyang Zhang and Christine Kaeser-Chen and Grace Vesom and Jennie Choi and Maria Kessler and Serge Belongie},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.00901},
year = {2019}
}
备注
3 pages, 4 figures