等离子体密度涨落对微波束质量的劣化效应
等离子体物理
2019-05-01 v1
摘要
湍流等离子体边界密度涨落会使穿过的微波束展宽，从而劣化其质量。对于依赖注入微波功率沉积的高空间局域化的情形（如控制 MHD 不稳定性），这可能成为问题。本文给出微波束在很大参数范围内（包括向 ITER 的外推）被密度涨落散射的数值估计。使用了两套代码：全波代码 IPF-FDMC 与波动理学方程求解器 WKBeam。展示了由 DIII-D 实验获得的束展宽与相应全波模拟之间的成功比对。
引用
@article{arxiv.1805.09594,
title = {The deteriorating effect of plasma density fluctuations on microwave beam quality},
author = {Alf Köhn and Max E. Austin and Michael W. Brookman and Kenneth W. Gentle and Lorenzo Guidi and Eberhard Holzhauer and Rob J. La Haye and Jarrod B. Leddy and Omar Maj and Craig C. Petty and Emanuele Poli and Terry L. Rhodes and Antti Snicker and Matthew B. Thomas and Roddy G. L. Vann and Hannes Weber},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.09594},
year = {2019}
}
备注
EPJ Web of Conferences, EC-20 2018 Proceedings, submitted