基于AND-EXOR的可逆逻辑电路中桥接故障的测试

Avik Chakraborty

基于AND-EXOR的可逆逻辑电路中桥接故障的测试

其他计算机科学 2010-09-28 v1

作者: Avik Chakraborty

摘要

可逆电路在计算机科学的许多领域（包括量子计算）中都有应用。本文研究了一类重要的可逆逻辑电路子类的可测试性，该类电路由k线受控非门（k-CNOT，k ≥ 1）组成。一个可逆k-CNOT门可以使用一个不可逆的k输入AND门和一个EXOR门来实现。本文考虑了一种可逆k-CNOT电路，其中每个k-CNOT门都使用不可逆的k输入AND门和EXOR门实现。假设此类电路最常见的故障类型是单桥接故障模型（包括线与和线或）。结果表明，一个具有p个可观测输出的基于(n+p)输入AND-EXOR的可逆逻辑电路，可以使用(3n + ⌈log₂p⌉ + 2)个测试向量来测试单桥接故障。

关键词

可逆逻辑电路桥接故障 AND-EXOR k-CNOT门可测试性单桥接故障量子计算

引用

@article{arxiv.1009.5098,
  title  = {Testing of Bridging Faults in AND-EXOR based Reversible Logic Circuits},
  author = {Avik Chakraborty},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1009.5098},
  year   = {2010}
}

备注

6 pages, 8 figures

基于AND-EXOR的可逆逻辑电路中桥接故障的测试

摘要

关键词

引用

备注

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