检验普朗克前景清理图中的前景残留：一种设计置信掩膜的新方法
宇宙学与河外天体物理
2015-06-03 v1
摘要
我们测试了用于宇宙学分析的常用U73掩膜内外普朗克前景清理后的宇宙微波背景（CMB）图中的前景残留。本文旨在介绍一种通过观察不同成分分离方法得到的清理图之间的差异来验证掩膜的新方法。通过分析U73掩膜外和掩膜内波段的功率谱以及needlet系数的均值、方差和偏度，我们首先确认了U73掩膜已覆盖的像素确实受到高度污染，不能用于宇宙学分析。我们还发现，U73掩膜需要扩展，以将靠近银道面的波段中的大尺度前景残留降低到CMB波动标准差的20%以下。此外，我们发现了276个点源，它们目前没有被U73掩膜覆盖。我们最终公开的扩展掩膜保留了65.9%的天空用于宇宙学分析。注意，这个扩展掩膜对于局部天空区域的分析可能很重要；在全天空分析中，靠近银道面的额外残留可能会被平均掉。
引用
@article{arxiv.1410.7102,
title = {Testing for foreground residuals in the Planck foreground cleaned maps: A new method for designing confidence masks},
author = {M. Axelsson and H. T. Ihle and S. Scodeller and F. K. Hansen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.7102},
year = {2015}
}
备注
Submitted to Astronomy and Astrophysics