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通过联合谱测量用电路QED检验贝尔不等式

量子物理 2011-01-14 v1

摘要

我们提出了一种可行的方法,利用实验上已实现的电路QED系统来检验贝尔不等式,该系统由两个空间分离的超导电荷量子比特(SCQ)组成,它们色散地耦合到一个公共的一维传输线谐振器(TLR)。我们的方案基于两个SCQ的联合谱测量,即它们在计算基{kl>,k,l=0,1}\{|kl>,\,k,l=0,1\}中的量子态可以通过检测驱动TLR的透射谱来测量:每个峰标记一个计算基,其相对高度对应于叠加的概率。通过这些联合谱测量,无需标准层析技术即可稳健地确认两个SCQ产生的贝尔态。此外,这两个远距离量子比特之间的统计非局域相关性可以通过联合谱测量直接读出,因此可以通过顺序测量与适当选择的经典局域变量集{θj,θj,j=1,2}\{\theta_j,\theta_j', j=1,2\}相关的相关性来检验贝尔不等式。我们还分析了我们提案的实验挑战。

关键词

引用

@article{arxiv.1101.2550,
  title  = {Testing Bell inequalities with circuit QEDs by joint spectral measurements},
  author = {Hao Yuan and L. F. Wei and J. S. Huang and X. H. Wang and Vlatko Vedral},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1101.2550},
  year   = {2011}
}

备注

6 pages, 5 figures