大面积单层石墨烯的太赫兹成像与光谱学
材料科学
2011-01-18 v2 光学
摘要
我们展示了利用宽带太赫兹脉冲对硅基底上15x15平方毫米单层石墨烯薄膜的太赫兹成像和光谱学。太赫兹图像清晰地描绘了石墨烯-硅样品的太赫兹载流子动力学，使我们能够在无需制备电极的情况下，以亚毫米分辨率测量薄层电导率。太赫兹载流子动力学由带内跃迁主导，且太赫兹诱导的电子运动具有平坦的光谱响应特征。基于金属薄膜菲涅耳系数的理论分析表明，样品上的局部薄层电导率在σs = 1.7×10⁻³ 到 2.4×10⁻³ Ω⁻¹（薄层电阻ρs = 420 - 590 Ω/sq）之间变化。
引用
@article{arxiv.1101.1338,
title = {Terahertz imaging and spectroscopy of large-area single-layer graphene},
author = {J. L. Tomaino and A. D. Jameson and J. W. Kevek and M. J. Paul and A. M. van der Zande and R. A. Barton and P. L. McEuen and E. D. Minot and Yun-Shik Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:1101.1338},
year = {2011}
}
备注
6 pages, 5 figures