张量层析微分相衬显微镜
光学
2022-09-07 v2 计算机视觉与模式识别
摘要
我们报道张量层析微分相衬显微镜（T2DPC），一种用于同时测量相位与各向异性的定量无标记层析成像方法。T2DPC 将微分相衬显微镜这一定量相位成像技术扩展以凸显光的矢量性质。该方法利用配备 LED 矩阵、圆偏振片与偏振敏感相机的标准显微镜所获取的强度测量，求解各向异性样品的介电张量。我们展示了针对多种验证样品的折射率、双折射与取向的准确三维重建，并表明某生物标本的重建偏振结构可预测病理。
引用
@article{arxiv.2204.11397,
title = {Tensorial tomographic differential phase-contrast microscopy},
author = {Shiqi Xu and Xiang Dai and Xi Yang and Kevin C. Zhou and Kanghyun Kim and Vinayak Pathak and Carolyn Glass and Roarke Horstmeyer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.11397},
year = {2022}
}