Nb/AlO$_x$/Nb约瑟夫森结中临界电流涨落的温度依赖性
超导电性
2009-11-13 v2
摘要
我们测量了Nb/AlO/Nb约瑟夫森结中的低频临界电流噪声。测量了偏置在能隙电压以上的非分流结和偏置在临界电流附近的电阻分流结。对于两者，的谱密度与成正比，与面积成反比，并且在变化近20倍的范围内与无关。对于所有在4.2 K下测量的器件，当缩放至A=1 m时，(1 Hz)/Hz。我们发现，从4.2 K到0.46 K，随温度线性下降。
引用
@article{arxiv.0809.3272,
title = {Temperature Dependence of Critical Current Fluctuations in Nb/AlO$\mathrm{_{x}}$/Nb Josephson Junctions},
author = {Shawn Pottorf and Vijay Patel and James E. Lukens},
journal= {arXiv preprint arXiv:0809.3272},
year = {2009}
}