可配置系统的 T 维存在条件覆盖与采样

采样技术，例如 t 维交互采样，被用于实现可配置系统的高效测试。这是通过为系统生成小规模且具有代表性的配置样本来实现的，从而规避对完整解空间进行测试。然而，按设计，近期大多数 t 维交互采样方法仅考虑来自可配置系统变异模型中的配置选项组合，而未考虑其到解空间的映射，因此可能使关键的实现制品未经测试。Tartler 等人通过考虑实现制品的存在条件而非纯配置选项来解决该问题，但未考虑这些制品之间可能的交互。本文中，我们引入 t 维存在条件覆盖，其以从代码中提取的存在条件为基础来覆盖 t 维交互，从而扩展了 Tartler 等人的方法。这确保了所有实现制品的 t 维交互均被包含在样本中，并提高了检测故障配置选项组合的概率。我们通过将该方法与现有 t 维交互采样技术比较，从测试效率与测试有效性两方面评估了我们的方法。我们表明，与 t 维交互采样相比，t 维存在条件采样能够生成通常更小的样本，同时保证 100% 的 t 维存在条件覆盖率。