聚光离子在聚乙烯中的快速离子:沿轨迹的损伤形成模拟
材料科学
2024-09-18 v1
摘要
我们present了对swift heavy ions (SHI) 在电子减缓 regime 下通过非晶聚乙烯轨迹中损伤形成的原子水平模拟结果。所采用的模型将Monte-Carlo代码TREKIS-3，其描述了离子轨迹附近电子和原子系统的激发，与原子系统对激发的分子动力学模拟相结合。模拟结果用于重构损伤配置、损伤区域的形状和尺寸。我们证明了最大能量损失位置与最大损伤位置在离子轨迹上的位置并不相同，彼此之间相隔超过10微米。还发现了能量实现电子减缓Bragg曲线中相反肩部的离子产生损伤阈值之间的差异。我们还分析了聚乙烯链在离子轨迹周围形成的化学活性碎片随SHI能量的空间分布。
引用
@article{arxiv.2409.10935,
title = {Swift heavy ions in polyethylene: simulation of damage formation along the path},
author = {P. Babaev and R. Voronkov and A. E. Volkov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.10935},
year = {2024}
}