磷烯材料的表面屈曲：测定、起源及其对电子结构的影响
材料科学
2018-01-03 v1
摘要
利用具有高空间分辨率的低能电子显微镜 (LEEM) 系统，通过表面敏感的动态微斑低能电子衍射 ({\mu}LEED) 分析，测定了磷烯晶体材料的表面结构。研究了两种样品：(i) 300 K 下晶体解理的黑磷 (BP)；(ii) 在真空中于 573 K 退火的厚度约 10 nm 的剥离少层磷烯 (FLP)。在两种样品中，分别测得显著的 0.22 {\AA} 和 0.30 {\AA} 的表面屈曲，该数值比先前报道的大一个数量级。利用第一性原理计算，表面空位的存在不仅归因于 BP 和 FLP 中的表面屈曲，也归因于先前报道的磷烯材料本征空穴掺杂。
引用
@article{arxiv.1704.06866,
title = {Surface buckling of phosphorene materials: determination, origin and influence on electronic structure},
author = {Zhongwei Dai and Wencan Jin and Jie-Xiang Yu and Maxwell Grady and Jerzy T. Sadowski and Young Duck Kim and James Hone and Jiadong Zang and Richard M. Osgood, and Karsten Pohl},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.06866},
year = {2018}
}