利用测试技术支撑物联网系统的早期安全性分析
软件工程
2023-09-07 v1
摘要
物联网系统的复杂性及对故障的敏感性给确保其可靠运行带来了重大挑战。故障可能由内部产生，也可能由影响系统正确性及其周边环境的外部因素引起。为研究这些复杂性，人们提出了多种建模方法以提升抽象层次，从而促进自动化与分析。故障逻辑分析（FailureLogic Analysis, FLA）是一种通过定义组件故障逻辑的行为及其在系统中的传播方式来预测潜在故障场景的技术。然而，手动指定 FLA 规则繁琐且易出错，导致规范不完整或不准确。本文提出采用测试方法来提升这些规则的完整性与正确性。通过在运行测试用例时系统地注入故障，可以观察故障在物联网系统内的传播方式，从而收集有助于补充和完善 FLA 规则的证据。
引用
@article{arxiv.2309.02985,
title = {Supporting Early-Safety Analysis of IoT Systems by Exploiting Testing Techniques},
author = {Diego Clerissi and Juri Di Rocco and Davide Di Ruscio and Claudio Di Sipio and Felicien Ihirwe and Leonardo Mariani and Daniela Micucci and Maria Teresa Rossi and Riccardo Rubei},
journal= {arXiv preprint arXiv:2309.02985},
year = {2023}
}