面向高效测试套件约简的子状态剖析
软件工程
2018-08-27 v1
摘要
测试套件约简（TSR）旨在从回归测试套件中移除冗余测试用例。典型的 TSR 方法确保原测试套件所覆盖的结构剖面元素也被约简后的测试套件覆盖。结构剖面很可能无法区分失败运行与通过运行，这削弱了 TSR 在缺陷检测方面的有效性。这促使我们探索基于程序变量集体值的状态剖面。本文提出子状态剖析（Substate Profiling），一种新型状态剖析形式，可增强现有的基于剖面的分析技术，如 TSR 和基于覆盖的故障定位。与当前捕获程序状态的方法相比，子状态剖析更实用且粒度更细。我们使用包含 53 个缺陷的十三个多重故障被测程序评估了该方法。我们的研究涉及使用子状态剖面以及四种结构剖面（基本块、分支、定义-使用对及三者组合）的贪心 TSR。对大多数被测程序，子状态剖析在相近的约简水平下检测到了明显更多的缺陷。此外，子状态剖面在许多情况下被发现有别于结构剖面，因而将两者结合是有益的。
引用
@article{arxiv.1808.08174,
title = {Substate Profiling for Effective Test Suite Reduction},
author = {Chadi Trad and Rawad Abou Assi and Wes Masri},
journal= {arXiv preprint arXiv:1808.08174},
year = {2018}
}
备注
To appear in ISSRE 2018, Memphis, Tennessee, October 2018