REBCO涂层导体层析现象的透射电子显微镜研究
超导电性
2024-10-16 v1
摘要
REBCO的层析强度对于其在大型磁体项目中的应用至关重要。本文采用透射电子显微镜（TEM）对REBCO涂层导体的微结构进行调查，以理解其层析性能。我们发现，低层析强度与IBAD MgO/Y2O3界面形成的纳米空洞有关。
引用
@article{arxiv.2410.11556,
title = {Study of delamination in REBCO coated conductor by transmission electron microscopy},
author = {Yan Xin and Jun Lu and Ke Han},
journal= {arXiv preprint arXiv:2410.11556},
year = {2024}
}
备注
ASC2024 conference, Sept. 2-6, 2024, Salt Lake City, UT