剥离涂层导体中YBCO超导层的临界电流留存

Feng Feng; Qishu Fu; Timing Qu; Chen Gu; Yubin Yue; Hui Mu; Xiangsong Zhang; Hongyuan Lu; Linli Wang; Siwei Chen; Pingfa Feng

剥离涂层导体中YBCO超导层的临界电流留存

超导电性 2016-12-28 v1

作者: Feng Feng , Qishu Fu , Timing Qu , Chen Gu , Yubin Yue , Hui Mu , Xiangsong Zhang , Hongyuan Lu , Linli Wang , Siwei Chen , Pingfa Feng

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摘要

高温超导涂层导体(CC)因其良好的机械性能以及YBCO超导层的临界电流性能，可在电气设备中实际应用。众所周知，CC由于其沿厚度方向（即YBCO的c轴方向）应力耐受性差而容易剥离。通常，剥离后可获得包含YBCO层和银稳定层的堆叠体。研究该剥离堆叠体的超导性质颇具意义，因为它也可被视为一种新型CC，其中以银稳定层作为缓冲层，这与传统CC中的氧化物缓冲层截然不同，并可能带来新应用。本研究通过液氮浸泡剥离了CC样品。采用霍尔探针扫描系统测量了原始样品与所得堆叠体的临界电流(IC)分布。发现剥离后IC可部分保留。通过扫描电子显微镜观察到剥离表面致密且无裂纹的形貌，并讨论了所得堆叠体在超导接头技术中的潜在应用。

关键词

涂层导体 YBCO超导层剥离临界电流霍尔探针扫描超导接头液氮浸泡

引用

@article{arxiv.1612.08553,
  title  = {Critical Current Survival in YBCO Superconducting Layer of the Delaminated Coated Conductor},
  author = {Feng Feng and Qishu Fu and Timing Qu and Chen Gu and Yubin Yue and Hui Mu and Xiangsong Zhang and Hongyuan Lu and Linli Wang and Siwei Chen and Pingfa Feng},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1612.08553},
  year   = {2016}
}

备注

4 pages, 5 figures

剥离涂层导体中YBCO超导层的临界电流留存

摘要

关键词

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