YBaCuO纳米线中的高临界电流密度与相位滑移过程的标度
超导电性
2013-01-18 v1
摘要
我们可重复地制备了宽度低至50纳米的YBaCuO纳米线。在YBCO上的Au/Ti覆盖层使得单根纳米线在高达80 K以上的温度下仍具有优异的电性能。在T = 4.2 K时实现了数十MA/cm²的临界电流密度，在77 K时实现了10 MA/cm²的临界电流密度，并且这些性能在高磁场中得以保持。通过选择纳米通道的尺寸和施加的外部磁场强度，可以调控相位滑移过程。数据表明，YBaCuO纳米线是制造高效传感器的颇具吸引力的系统，支持了未来太赫兹器件的构想。
引用
@article{arxiv.1201.1886,
title = {High critical-current density and scaling of phase-slip processes in YBaCuO nanowires},
author = {G. Papari and F. Carillo and D. Stornaiuolo and L. Longobardi and F. Beltram and F. Tafuri},
journal= {arXiv preprint arXiv:1201.1886},
year = {2013}
}
备注
8 pages, 3 figures. Accepted for publication in Superconductor Science and Technology