基于硬X射线飞行时间动量显微镜的结构分析：现状与展望
材料科学
2022-07-13 v1
摘要
X射线光电子衍射（XPD）已发展成为固体结构分析的强有力技术。将该技术扩展至硬X射线范围（hXPD）可获取真正的体相信息。本文给出使用一种新型全视场成像技术——飞行时间动量显微镜（ToF-MM）进行 hXPD 实验的现状报告。ToF-MM 的一种特殊变体能够记录高动能（高达 >7keV）并扩大 k 视场。我们展示了特定于高动能的应用。hXPD 的强位点特异性以 NbSe2、SrTiO3 中的立方到四方转变以及外延 GaAs 薄膜中的闪锌矿结构为例说明。Bloch 波计算与实验非常吻合，并揭示了宿主晶格中发射位点的指纹状特征。我们展示了两种半导体（GaAs 中的 Mn 和 Si 中的 Te）中的掺杂位点分析。硬X射线 ARPES 加核心能级 hXPD 能够消除 HARPES 图中印入的强衍射特征。
引用
@article{arxiv.2202.11951,
title = {Structure Analysis using Time-of-Flight Momentum Microscopy with Hard X-rays: Status and Prospects},
author = {Olena Fedchenko and Aimo Winkelmann and Gerd Schönhense},
journal= {arXiv preprint arXiv:2202.11951},
year = {2022}
}
备注
40 pages, 8 figures