基于相干 X 射线衍射成像的自组装金介晶晶粒的结构研究
材料科学
2021-03-03 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
介晶是由具有择优晶体学取向的个体纳米晶组成的纳米结构材料。在介观长度尺度上，介晶的性质受结构非均匀性的强烈影响。在此，我们报道了由 60 nm 尺寸金纳米立方体自组装而成的刻面介晶晶粒的详细结构表征。利用相干 X 射线衍射成像，我们以足以分辨每个金纳米颗粒的分辨率确定了该介晶的结构。重建的金介晶电子密度揭示了其本征结构非均匀性，包括晶格参数的局部偏差以及内部缺陷的存在。应变分布表明，通过角向 X 射线互相关分析获得的平均超晶格与介晶真实的多畴结构彼此非常接近，偏差小于 10%。这些结果将对理解介晶的结构化与自组装（包括由此产生的性质）的基本原理提供重要影响。
引用
@article{arxiv.2103.01822,
title = {Structural Study of a Self-Assembled Gold Mesocrystal Grain by Coherent X-ray Diffraction Imaging},
author = {J. Carnis and F. Kirner and D. Lapkin and S. Sturm and Y. Y. Kim and I. A. Baburin and R. Khubbutdinov and A. Ignatenko and E. Iashina and A. Mistonov and T. Steegemans and Th. Wieck and Th. Gemming and A. Lubk and S. Lazarev and M. Sprung and I. A. Vartanyants and E. V. Sturm},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.01822},
year = {2021}
}
备注
28 pages, 8 figures, 50 references