量化定向连接组装纳米晶体的原子晶格与超晶格之间的角度相关性

我们表明，将纳米聚焦束 X 射线散射与 X 射线互相关分析相结合，是通过单次实验对介晶纳米粒子组装体进行完整结构表征的有效手段。我们分析了数百个独立样品位置（即独立晶粒）的衍射图样，以获得超晶格和原子晶格有序度的有意义统计分布。对同一样品位置同时进行小角和大角 X 射线散射，使我们能够确定超晶格的结构和取向，以及原子晶格前两个布拉格峰的角度相关性、它们相对于超晶格的取向，以及由局部结构无序引起的平均取向失配。该实验对于通过胶体纳米晶体的同时自组装和导电配体表面功能化合成的合成介晶体特别有利。虽然此类材料的结构表征迄今为止一直具有挑战性，但本方法现在能够将介晶结构与光电性质关联起来。