利用表面 X 射线衍射与扫描隧道显微镜对 Au/Ge(001) 的结构研究
强关联电子
2013-05-30 v1 材料科学
摘要
通过表面 X 射线衍射（SXRD）和扫描隧道显微镜（STM）的自相关函数，研究了 Au/Ge(001) 的一维重构。在 SXRD-Patterson 图中发现的原子间距得到了 STM 结果的证实。最近被确定为 3/4 单层金覆盖度的 Au 覆盖率，结合 SXRD，得出 c(8x2) 单胞内 Au 的三个不等价位置。结合来自 STM 形貌和线轮廓的结构信息，识别出两个基本构件：顶部线状结构内的 Au-Ge 异质二聚体和沟槽内的 Au 同质二聚体。通过密度泛函理论和基于模型的 Patterson 图，以替换重构 Ge(001) 表面的锗原子为基础，讨论了这两种组分的结合。
引用
@article{arxiv.1205.0887,
title = {Structural Examination of Au/Ge(001) by Surface X-Ray Diffraction and Scanning Tunneling Microscopy},
author = {S. Meyer and T. Umbach and C. Blumenstein and J. Schäfer and R. Claessen and S. Sauer and S. J. Leake and P. R. Willmott and M. Fiedler and F. Bechstedt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1205.0887},
year = {2013}
}
备注
5 pages, 3 figures