填充密度对太赫兹超材料的强烈影响

我们研究了由开口谐振环构成的太赫兹超材料对晶胞密度的响应。结果表明，当周期为共振波长的三分之一时，基模共振具有最高的Q因子。从该最佳周期增大或减小周期都会降低Q因子。所有观测结果均可通过以下理解来解释：在低密度下，辐射耦合是主要的损耗机制；而在高密度下，强烈的SRR间耦合增强了非辐射损耗。我们的结果允许设计具有可调Q因子的超材料，并暗示存在一个最佳填充密度以诱导最强的色散。