表面对负指数 "超透镜" 分辨率限制的显著影响
材料科学
2009-11-10 v2
摘要
我们表明，负指数材料（NIM）的亚波长成像与其 "软" 电磁响应密切相关，对表面特性极其敏感（且以非平凡方式）。dielectric 介电常数 epsilon 或磁导率 mu 从理想值 epsilon = mu = -1 偏离薄表面层(s)后，将导致 NIM 薄片分辨率限制的急剧降低。可能在极化子谱中存在能隙，这将允许即使没有耗散也建立稳态。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0412684,
title = {Strong effect of surfaces on resolution limit of negative-index "superlens"},
author = {A. M. Bratkovsky and A. Cano and A. P. Levanyuk},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0412684},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 1 figure, (v2) minor changes in text