激活晶体中的受激自旋噪声

在自旋噪声谱学中，已知磁化率谱由不受任何外部扰动、或者更确切地说仅受其热浴扰动的自旋系统给出。我们提出了自旋噪声谱学的一个新版本，其中被探测的磁化（法拉第旋转）噪声由具有准白谱的外部涨落磁场所激发。在纵向磁场中对 $\text{BaF}_2 : \text{U}^{3+}$ 晶体进行的受激自旋噪声实验研究揭示了该方法的特征，并使我们能够辨识系统的Van-Vleck与布居相关贡献，以及发现低磁场下纵向自旋弛豫速率的异常磁场依赖关系。研究表明，受激与自发自旋噪声的谱虽然都紧密关联于自旋系统的磁化率，却仍有本质不同。讨论了两类自旋噪声谱与两种自旋噪声谱学方法的区别。