AGN 中陡峭的 X 射线反射辐射率分布作为盘径向电离结构的结果
高能天体物理现象
2019-02-20 v1
摘要
X 射线观测表明，活动星系核以及 X 射线双星中的日冕具有高度紧致性。源的紧致性意味着吸积盘的照射具有强烈的径向依赖性。对于任何合理的密度径向分布，这将导致盘电离的径向分布。Svoboda 等人 (2012) 通过一个单独的例子表明，假设盘具有径向结构的电离分布会导致辐射率参数出现人为增大。我们进一步研究了 X 射线光谱如何被改变，并在广泛的参数范围内量化了这一效应。计算是使用当前最先进的相对论反射模型进行的。我们使用计划搭载于 Athena 上的微量能器 X-IFU 的响应文件模拟了光谱。我们采用了 X 射线明亮 Seyfert-1 星系的典型参数，并考虑了盘电离的两种情形：1) 盘电离的径向分布，2) 恒定的盘电离。我们发现，陡峭的辐射率分布确实可以由盘电离的径向分布引起，当日冕位于黑洞上方低高度处时，这一效应变得更加重要，甚至可能比几何效应更为显著。我们还发现，内盘电离高且随半径迅速降低的情形，可能导致黑洞自旋的测量不准确。
引用
@article{arxiv.1902.03481,
title = {Steep X-ray reflection emissivity profiles in AGN as the result of radially-structured disc ionisation},
author = {E. S. Kammoun and V. Domcek and J. Svoboda and M. Dovciak and G. Matt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1902.03481},
year = {2019}
}
备注
Accepted for publication in MNRAS