引力透镜统计暗物质晕

我们提出了一种通过弱引力透镜测量暗物质晕质量函数并区分不同 Omega 值模型的新方法。我们测量了模拟透镜巡天中的峰值分布，并表明暗物质晕产生的透镜信号可在广泛的峰值高度范围内被探测到。即使信噪比远低于单个晕的探测极限，投影晕统计仍可对从星系尺度到星系团尺度的晕质量施加约束。峰值统计的使用依赖于对源星系本征椭率噪声的分析模型。该噪声模型已被证明能准确描述多种输入椭率分布下的模拟数据。我们表明，测得的峰值分布具有引力透镜的显著特征，其非高斯形状可用于区分不同 Omega 值的模型。峰值统计的使用与场统计测量（如椭率关联函数）互补，且可能不受相同系统误差的影响。