中文

弱掺杂 $Cu0_2$ 面中的自旋纹理解释磁关联长度和拉曼散射实验

凝聚态物理 2007-05-23 v1

摘要

考虑了一个弱掺杂部分离域空穴的 CuO2CuO_2 面模型。这种空穴对背景反铁磁自旋纹理的影响可以用一个纯磁哈密顿量 H=(ijk)(SiSj×Sk)2H = - \sum_{(ijk)} (\vec S_i \cdot \vec S_j \times \vec S_k)^2 来表示,其中求和是对单个 plaquette 的四个三角形进行的。我们表明,这个随机分布手性自旋缺陷的模型导致面内自旋关联长度近似由 ξ1(x,T)=ξ1(0,T)+ξ1(x,0)\xi^{-1} (x,T) = \xi^{-1} (0,T) + \xi^{-1} (x,0) 描述,这与 La2xSrxCuO4La_{2-x}Sr_xCuO_4 的中子散射实验一致。此外,该模型与同一铜氧化物系统的 B1gB_{1g} 拉曼散射结果比较吻合。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/9209007,
  title  = {Spin texture in weakly doped $Cu0_2$ planes explaining magnetic correlation length and Raman scattering experiments},
  author = {R. J. Gooding and A. Mailhot},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9209007},
  year   = {2007}
}

备注

14 pages, 1 figure available on request from [email protected]