空穴掺杂无限层 $R$NiO$_2$ 中的自旋密度、电荷与键失均波不稳定性
强关联电子
2022-10-12 v2 材料科学
超导电性
摘要
利用 \emph{ab initio} 能带结构方法与 DFT+动力学平均场理论方法，我们探究了空穴掺杂无限层镍酸盐 NiO 的 Ni-O 平面内自旋与电荷条纹形成的可能性。我们的结果揭示了 型 自旋态（晶格未畸变）对形成自旋密度、电荷与键失均条纹相伴随面内“呼吸”状晶体结构畸变的显著不稳定性。我们的工作给出了竞争电荷与自旋条纹相的全面图像，并在掺杂时可能出现不同条纹图案的阻挫。这表明自旋与电荷条纹态可能源于强磁关联（伴随晶格畸变），其在理解空穴掺杂层状镍酸盐的反常性质中起着关键作用。
引用
@article{arxiv.2206.06985,
title = {Spin-density, charge- and bond-disproportionation wave instability in hole-doped infinite-layer $R$NiO$_2$},
author = {K. G. Slobodchikov and I. V. Leonov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.06985},
year = {2022}
}
备注
6 pages, 3 figures