半导体频率梳的谱分辨线宽增强因子
光学
2021-04-14 v1 应用物理
摘要
线宽增强因子（LEF）近来成为半导体激光器频率梳生成研究的热点。本文提出一种新颖的调制实验，可直接测量激光频率梳中谱分辨的 LEF。利用相位敏感技术，我们能够提取每个梳齿模式的 LEF。我们首先使用 Maxwell-Bloch 模拟研究并验证这一普遍适用技术，随后在量子级联激光频率梳上给出实验演示。
引用
@article{arxiv.2104.05747,
title = {Spectrally resolved linewidth enhancement factor of a semiconductor frequency comb},
author = {Nikola Opačak and Florian Pilat and Dmitry Kazakov and Sandro Dal Cin and Georg Ramer and Bernhard Lendl and Federico Capasso and Benedikt Schwarz},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.05747},
year = {2021}
}