光在 epsilon-near-zero ITO 层中的时空折射
光学
2021-12-20 v1
摘要
当光穿过折射率随时间快速变化的介质时，其频率将发生偏移。近期在透明导电氧化物中报道了巨大的频移效应。这些观测被解释为源于体介质中由折射率时间变化引起的传播相位的时间变化，该效应被称为时间折射。在此，我们表明由氧化铟锡（ITO）构成的 epsilon-near-zero（ENZ）层中的频移不仅源自该体响应，还包含由空间边界条件时间变化引起的显著效应。对于某些角度，该边界效应可导致与体效应相反的主导性频移。因此，这一过程产生的频移可通过入射角进行定制，从而实现振幅与相位调制的去耦。
引用
@article{arxiv.2107.05970,
title = {Spatiotemporal refraction of light in an epsilon-near-zero ITO layer},
author = {Justus Bohn and Ting Shan Luk and Euan Hendry},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.05970},
year = {2021}
}
备注
Manuscript: 7 pages, 5 figures