重费米子材料电子输运中的空间干涉
强关联电子
2016-08-16 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
扫描隧道显微镜/谱和点接触谱代表了近期重费米子研究的主要进展之一。两者都揭示了关于涌现重电子准粒子的复合性质的重要信息。然而，对于这些技术底层物理过程的相似与差异，仍缺乏详细而透彻的微观理解。在此，我们利用 Keldysh 非平衡格林函数技术研究周期 Anderson 晶格正常态中的电子输运。除了众所周知的传导电子与 f 电子通道间的 Fano 干涉外，我们的结果进一步揭示了界面处不同空间路径间的空间干涉对微分电导的影响，以及它们与能带特征（如杂化隙和范霍夫奇点）的有趣相互作用。我们发现空间干涉导致电子输运在动量空间中的加权平均，并可能在某些情况下抑制电子能带特征。特别是，对于大界面，它降低了探测杂化隙边缘附近 f 电子谱权重的能力，这取决于引线（lead）的费米面。我们的结果表明点接触谱在探测 f 电子方面存在内在低效性。
引用
@article{arxiv.1602.07782,
title = {Spatial interferences in the electron transport of heavy fermion materials},
author = {Shu-feng Zhang and Yu Liu and Hai-Feng Song and Yi-feng Yang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1602.07782},
year = {2016}
}
备注
13 pages, 8 figures; with additional argument that PCS may overestimate the hybridization gap as observed in SmB6