基于电子的电离剖面监测器测量的横向剖面空间电荷畸变及校正方法
加速器物理
2019-05-22 v3 仪器与探测器
摘要
使用电离剖面监测器（IPMs）对高亮度束流进行横向剖面测量时，会受到束流电磁场的影响。尽管施加了强外部磁场以限制电子的横向运动，这种相互作用仍可能导致测量剖面形状的畸变。本文详细讨论了导致该畸变的机制。通过针对简化束流分布的解析计算以及针对实际分布的全模拟模型，对该畸变本身进行了描述。给出了为避免剖面畸变所需最小磁场随束流参数缩放的简单关系。此外，提出了将机器学习算法应用于从畸变的测量剖面重建实际束流剖面的问题。所得结果在模拟数据测试中表现出良好的一致性。这些算法的性能表明，它们对于高亮度束流上的IPM运行或弱磁场IPM可能非常有用。
引用
@article{arxiv.1811.00371,
title = {Space-charge distortion of transverse profiles measured by electron-based Ionization Profile Monitors and correction methods},
author = {Dominik Vilsmeier and Mariusz Sapinski and Rahul Singh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1811.00371},
year = {2019}
}